内核驱动 ltc4282¶
支持的芯片
Analog Devices LTC4282
前缀: ‘ltc4282’
扫描地址: - I2C 0x40 - 0x5A (7 位) 扫描地址: - I2C 0x80 - 0xB4，步长为 2 (8 位)
数据表
作者: Nuno Sá <nuno.sa@analog.com>
描述¶
LTC4282 热插拔控制器允许将电路板安全地插入和移除带电的背板。使用一个或多个外部 N 沟道传输晶体管，电路板电源电压和浪涌电流以可调节的速率上升。I2C 接口和板载 ADC 允许监视电路板电流、电压、功率、能量和故障状态。该器件具有模拟折返电流限制和电源监视功能，适用于 2.9V 至 33V 的应用。双 12V 栅极驱动器允许高功率应用在并联 MOSFET 中共享安全工作区域，或支持两阶段启动，首先对负载电容充电，然后启用低导通电阻路径到负载。LTC4282 非常适合高功率应用，因为精确的监视能力和准确的电流限制减少了负载和电源必须安全运行的极端情况。非易失性配置允许在自主生成警报和响应故障时具有灵活性。
Sysfs 条目¶
支持以下属性。限制是可读写的，所有其他属性都是只读的。请注意，in0 和 in1 是互斥的。启用一个会禁用另一个，禁用一个会启用另一个。
in0_input |
输出电压 (mV)。 |
in0_min |
欠压阈值 |
in0_max |
过压阈值 |
in0_lowest |
测量的最低电压 |
in0_highest |
测量的最高电压 |
in0_reset_history |
写入 1 以重置 in0 历史记录。还会清除 fet bad 和短路故障日志。 |
in0_min_alarm |
欠压警报 |
in0_max_alarm |
过压警报 |
in0_enable |
启用/禁用 VSOURCE 监控 |
in0_fault |
MOSFET 中的故障。FET 坏或短路。 |
in0_label |
通道标签 (VSOURCE) |
in1_input |
输入电压 (mV)。 |
in1_min |
欠压阈值 |
in1_max |
过压阈值 |
in1_lowest |
测量的最低电压 |
in1_highest |
测量的最高电压 |
in1_reset_history |
写入 1 以重置 in1 历史记录。还会清除过压/欠压故障日志。 |
in1_min_alarm |
欠压警报 |
in1_max_alarm |
过压警报 |
in1_lcrit_alarm |
临界欠压警报 |
in1_crit_alarm |
临界过压警报 |
in1_enable |
启用/禁用 VDD 监控 |
in1_label |
通道标签 (VDD) |
in2_input |
GPIO 电压 (mV) |
in2_min |
欠压阈值 |
in2_max |
过压阈值 |
in2_lowest |
测量的最低电压 |
in2_highest |
测量的最高电压 |
in2_reset_history |
写入 1 以重置 in2 历史记录 |
in2_min_alarm |
欠压警报 |
in2_max_alarm |
过压警报 |
in2_label |
通道标签 (VGPIO) |
curr1_input |
感应电流 (mA) |
curr1_min |
欠电流阈值 |
curr1_max |
过电流阈值 |
curr1_lowest |
测量的最低电流 |
curr1_highest |
测量的最高电流 |
curr1_reset_history |
写入 1 以重置 curr1 历史记录。还会清除过电流故障日志。 |
curr1_min_alarm |
欠电流警报 |
curr1_max_alarm |
过电流警报 |
curr1_crit_alarm |
临界过电流警报 |
curr1_label |
通道标签 (ISENSE) |
power1_input |
功率 (单位为 uW) |
power1_min |
低功率阈值 |
power1_max |
高功率阈值 |
power1_input_lowest |
历史最低功率使用量 |
power1_input_highest |
历史最高功率使用量 |
power1_reset_history |
写入 1 以重置 power1 历史记录。还会清除功率错误故障日志。 |
power1_min_alarm |
低功率警报 |
power1_max_alarm |
高功率警报 |
power1_label |
通道标签 (功率) |
energy1_input |
一段时间内测量的能量 (单位为微焦耳) |
energy1_enable |
启用/禁用能量累积 |
DebugFs 条目¶
该芯片还有一个故障日志寄存器，可以在其中记录故障。因此，由于这些是日志记录事件，我们在 debugfs 中提供对它们的访问。请注意，即使在这些日志中检测到某些故障，也并不一定意味着该故障仍然存在。如正确的 Sysfs 条目中所述，可以通过写入正确的 reset_history 属性来清除这些日志。
警告
debugfs 接口可能会在没有通知的情况下更改，并且仅当内核使用定义了 CONFIG_DEBUG_FS 的情况下编译时才可用。
/sys/kernel/debug/ltc4282-hwmon[X]/ 包含以下属性
power1_bad_fault_log |
当发生 power1 错误故障时设置为 1。 |
in0_fet_short_fault_log |
当 ADC 检测到 FET 短路故障时设置为 1。 |
in0_fet_bad_fault_log |
当发生 FET-BAD 故障时设置为 1。 |
in1_crit_fault_log |
当发生 VDD 过压故障时设置为 1。 |
in1_lcrit_fault_log |
当发生 VDD 欠压故障时设置为 1。 |
curr1_crit_fault_log |
当发生过电流故障时设置为 1。 |