内核驱动 ltc4282¶
支持的芯片
Analog Devices LTC4282
前缀: ‘ltc4282’
扫描的地址: - I2C 0x40 - 0x5A (7 位) 扫描的地址: - I2C 0x80 - 0xB4 步长为 2 (8 位)
数据手册
作者: Nuno Sá <nuno.sa@analog.com>
描述¶
LTC4282 热插拔控制器允许电路板安全地插入和移除带电背板。 使用一个或多个外部 N 沟道传输晶体管，电路板电源电压和浪涌电流以可调节的速率升高。 I2C 接口和板载 ADC 允许监控电路板电流、电压、功率、能量和故障状态。 该器件具有模拟折返电流限制和电源监控功能，适用于 2.9V 至 33V 的应用。 双 12V 栅极驱动允许高功率应用在并行 MOSFET 之间共享安全工作区，或者支持 2 级启动，首先为负载电容充电，然后启用通往负载的低导通电阻路径。 LTC4282 非常适合高功率应用，因为精确的监控能力和准确的电流限制减少了负载和电源必须安全运行的极端情况。 非易失性配置允许灵活地自主生成警报和响应故障。
Sysfs 条目¶
支持以下属性。 限制是可读写的，所有其他属性都是只读的。 请注意，in0 和 in1 是互斥的。 启用一个禁用另一个，禁用一个启用另一个。
in0_input |
输出电压 (mV)。 |
in0_min |
欠压阈值 |
in0_max |
过压阈值 |
in0_lowest |
最低测量电压 |
in0_highest |
最高测量电压 |
in0_reset_history |
写入 1 以重置 in0 历史记录。 还会清除 FET 坏和短路故障日志。 |
in0_min_alarm |
欠压报警 |
in0_max_alarm |
过压报警 |
in0_enable |
启用/禁用 VSOURCE 监控 |
in0_fault |
MOSFET 出现故障。 FET 坏或短路。 |
in0_label |
通道标签 (VSOURCE) |
in1_input |
输入电压 (mV)。 |
in1_min |
欠压阈值 |
in1_max |
过压阈值 |
in1_lowest |
最低测量电压 |
in1_highest |
最高测量电压 |
in1_reset_history |
写入 1 以重置 in1 历史记录。 还会清除过压/欠压故障日志。 |
in1_min_alarm |
欠压报警 |
in1_max_alarm |
过压报警 |
in1_lcrit_alarm |
严重欠压报警 |
in1_crit_alarm |
严重过压报警 |
in1_enable |
启用/禁用 VDD 监控 |
in1_label |
通道标签 (VDD) |
in2_input |
GPIO 电压 (mV) |
in2_min |
欠压阈值 |
in2_max |
过压阈值 |
in2_lowest |
最低测量电压 |
in2_highest |
最高测量电压 |
in2_reset_history |
写入 1 以重置 in2 历史记录 |
in2_min_alarm |
欠压报警 |
in2_max_alarm |
过压报警 |
in2_label |
通道标签 (VGPIO) |
curr1_input |
感应电流 (mA) |
curr1_min |
欠流阈值 |
curr1_max |
过流阈值 |
curr1_lowest |
最低测量电流 |
curr1_highest |
最高测量电流 |
curr1_reset_history |
写入 1 以重置 curr1 历史记录。 还会清除过流故障日志。 |
curr1_min_alarm |
欠流报警 |
curr1_max_alarm |
过流报警 |
curr1_crit_alarm |
严重过流报警 |
curr1_label |
通道标签 (ISENSE) |
power1_input |
功率 (以 uW 为单位) |
power1_min |
低功率阈值 |
power1_max |
高功率阈值 |
power1_input_lowest |
历史最低功耗 |
power1_input_highest |
历史最高功耗 |
power1_reset_history |
写入 1 以重置 power1 历史记录。 还会清除功率不良故障日志。 |
power1_min_alarm |
低功率报警 |
power1_max_alarm |
高功率报警 |
power1_label |
通道标签 (Power) |
energy1_input |
一段时间内测量的能量 (以微焦耳为单位) |
energy1_enable |
启用/禁用能量累积 |
DebugFs 条目¶
该芯片还具有一个故障日志寄存器，可以在其中记录故障。 因此，由于这些是日志记录事件，因此我们在 debugfs 中提供对它们的访问。 请注意，即使在这些日志中检测到某些故障，也并不一定意味着该故障仍然存在。 正如在适当的 Sysfs 条目中提到的，可以通过写入适当的 reset_history 属性来清除这些日志。
警告
debugfs 接口如有更改，恕不另行通知，并且仅在使用定义的 CONFIG_DEBUG_FS 编译内核时可用。
/sys/kernel/debug/ltc4282-hwmon[X]/ 包含以下属性
power1_bad_fault_log |
因发生 power1 不良故障而设置为 1。 |
in0_fet_short_fault_log |
当 ADC 检测到 FET 短路故障时设置为 1。 |
in0_fet_bad_fault_log |
当发生 FET-BAD 故障时设置为 1。 |
in1_crit_fault_log |
因发生 VDD 过压故障而设置为 1。 |
in1_lcrit_fault_log |
因发生 VDD 欠压故障而设置为 1。 |
curr1_crit_fault_log |
因发生过流故障而设置为 1。 |