使用 kselftest 进行设备测试

有几种不同的 kselftest 可用于通用地测试设备，它们在覆盖范围上有一些重叠，并且要求不同。本文档旨在概述每一个测试。

注意：本文档中的路径是相对于 kselftest 文件夹 (tools/testing/selftests) 的。

面向设备的 kselftest

• 设备树 (dt)

  • 覆盖范围：设备树中描述的设备的探测状态

  • 要求：无

• 错误日志 (devices/error_logs)

  • 覆盖范围：来自任何设备的错误（或更关键的）日志消息的存在

  • 要求：无

• 可发现的总线 (devices/probe)

  • 覆盖范围：参考文件中描述的 USB 或 PCI 设备的存在和探测状态

  • 要求：在 YAML 参考文件中手动描述应测试的设备（例如，请参阅 devices/probe/boards/google,spherion.yaml）

• 存在 (devices/exist)

  • 覆盖范围：所有设备的存在

  • 要求：在已知良好的内核上生成参考（有关详细信息，请参阅 devices/exist/README.rst）

因此，建议在所有（基于 DT 的）平台上启用错误日志和设备树测试，因为它们没有任何要求。然后，为了大大提高覆盖率，为每个平台生成参考并启用存在测试。可发现的总线测试可用于验证特定 USB 或 PCI 设备的探测状态，但可能不值得在大多数情况下使用。